仪器型号：JSM-7500F
生产单位：日本电子
安装时间：2009.12
性能指标：
1.分辨率：1.0nm(15KV),1.4nm(1KV)；
2.放大倍数：25×－1,000,000×；
3.样品台：大尺寸、超级对中样品台X=70mm，Y=50mm，可进行5-70°倾斜，360°旋转角，五轴马达驱动；
4.能谱仪（EDS）能量分辨率136eV，分析元素范围5B-92U。
主要附件：
冷场发射灯丝；场发射扫描专用能谱仪INCA SEM 250；试样表面处理器（喷金、喷碳）。
基础应用：
1.金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物等材料的显微形貌,晶体结构和相组织的观察与分析；
2.各种材料微区化学成分的定性分析；金属材料牌号的确定；
3.机械零部件的失效分析；
4.粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定；
5.复合材料界面特性的研究。
